霍爾元件的特性如何測試
關鍵詞：
霍爾元件的特性測試
一、 實驗目的
了解霍爾式元件的結構和性能。
二、 實驗設備
霍爾片、磁路系統(tǒng)、差動放大器、直流穩(wěn)壓電源、測微器、電橋、數(shù)字電壓表、砝碼、用彈簧支撐的平臺。
三、 實驗步驟
1、 把差動放大器的增益旋鈕逆時針調到最小位置，數(shù)字電壓表的量程撥到20V檔，直流穩(wěn)壓電源輸出撥到2V檔。
2、 裝好測微器、霍爾片，使霍爾片處于梯度分布磁場的中間位置。
3、 開啟電源，將差動放大器和數(shù)字電壓表分別調零。
4、 調整電位器W1使差動放大器輸出為零。
5、 旋動測微器，改變霍爾片在磁場中的位置，記錄電壓表的示值，建議在線性區(qū)每隔0.25mm記一個數(shù)。
6、 在坐標紙上作出U—X曲線，指出線性范圍，計算線性范圍的線性回歸方程，寫出靈敏度。
四、 注意事項
1、 為提高靈敏度，應使霍爾片盡量靠近極靴，但不要為提高靈敏度而提高霍爾片承受的電壓，否則可能損壞霍爾片。
2、 測量系統(tǒng)調整好后，測量過程中不能再移動磁路系統(tǒng)。
五、 思考
實驗過程中的環(huán)境溫度變化會不會影響霍爾片的輸入輸出關系？為什么？
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